光学镀膜膜厚仪能检测到的最小厚度变化取决于当时间规格、折柳率和校准精度。一般而言，高精度的光学镀膜膜厚仪具有十分低的下限测量值，好像检测到纳米级别的薄膜厚度变化。

具体而言，一些先进的光学镀膜膜厚仪的测量范畴不错从纳米到微米级别，以致更精准的成立不错测量到更小的单元。这意味着它们好像捕捉到极其狭窄的厚度变化，从而在薄膜科学、光学工程、材料谋略等范畴提供准确的数据复古。

然则，需要提防的是，测量十分薄的膜层时，可能会受到多种身分的影响，如名义粗造度、基底材料的性质以及测量环境等。这些身分可能导致测量恶果的流弊或不笃定性增多。因此，在吸收光学镀膜膜厚仪时，除了温雅其好像检测到的最小厚度变化外，还需要研讨其领路性、可靠性以及适用范畴等身分。

总的来说，光学镀膜膜厚仪好像检测到的最小厚度变化取决于当时间性能和测量条款。通过吸收合乎的成立和严格终结测量条款，不错获取准确可靠的薄膜厚度数据，为科研和工业坐蓐提供有劲的复古。如需更精准的数据，惨酷查阅具体型号的光学镀膜膜厚仪的诠释书或关系关系厂商以获取更详备的信息。